四点弯-半导体薄膜结合力检测系统
四点弯-半导体薄膜结合力检测系统V8.2是独创的四点弯测试系统，来自于史坦福大学，半导体专业生产线应用，经历超过8年的开发和优化来提高测试能力、稳定性和产量。系统和软件的控制通过大量的修正来提高测试能力、控制和数据分析。可以满足微电子设备、工具和材料公司的
模拟运输振动测试仪
本机适用玩具、电子、家具、礼品、陶瓷、包装等产品进行模拟运输测试，符合EN、ANSI、UL、ASTM、ISTA美国、欧洲、国际运输标准。
高级扩展型表面张力仪Sigma 700
仪器简介：Sigma 700和Sigma 701是非常出众的力学张力仪，可进行一系列的测量，并可适应多种多样的实验要求。这一普适性使得他们非常适用于科研、研发、工业质量控制和教学之用。
CI-400计算机图像分析系统
计算机图像分析系统:在Windows下运行的CI-400计算机图像分析系统(CIAS)使您能够对彩色或黑白图像完成“开始—终了”的一系列操作
SPIP表面形貌分析软件
SPIP™图像分析软件被用于，包括半导体物理，化学，生物学检验，计量，纳米技术等各种领域。您可从我们客户应用的经历获知更多应用领域。SPIP™软件目前支持92种格式数据文件。更与aep Technolongy等从事表面研究仪器开发的知名公司合作，完美结合NanoMa
DMS2型A/B扫描超声波测厚仪
DMS 2 型超声波测厚仪是种创新的A-扫描数字测厚仪/数据记录器。它基于Krautkramer的TopCOAT专利技术，采用自动速率模式(Auto-V)，集众多特性于身，使用简便。
3600s便携式探伤仪
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